行业组件数据 · 2026

D触发器单元

繁體：D觸發器單元

D触发器单元是一种双稳态多谐振荡器电路元件，用于存储一个二进制位（0或1）。

技术定义与适配语境
典型 D触发器单元 会按材料、尺寸公差、适配关系和失效风险在 计算机、电子和光学产品制造 中评估。

D触发器单元是一种双稳态多谐振荡器电路元件，用于存储一个二进制位（0或1）。它具有数据输入（D）、时钟输入（CLK）以及输出（Q和Q'）。该单元在指定的时钟沿（通常为上升沿或下降沿）捕获D输入端的值，并在Q输出端保持该值稳定，直到下一个时钟事件。它是数字系统中寄存器、计数器和存储元件的基本构建块，例如D触发器阵列机器。 D触发器基于边沿触发时钟工作。当时钟信号发生跳变（例如从低到高）时，D输入端的逻辑电平被采样并传输到Q输出端。该值保持锁存，不受D端变化的影响，直到下一个时钟沿。在内部，它通常使用交叉耦合的门（如与非门或或非门）来形成反馈以维持状态。

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组件规格

定义
D触发器单元是一种双稳态多谐振荡器电路元件，用于存储一个二进制位（0或1）。它具有数据输入（D）、时钟输入（CLK）以及输出（Q和Q'）。该单元在指定的时钟沿（通常为上升沿或下降沿）捕获D输入端的值，并在Q输出端保持该值稳定，直到下一个时钟事件。它是数字系统中寄存器、计数器和存储元件的基本构建块，例如D触发器阵列机器。

D触发器基于边沿触发时钟工作。当时钟信号发生跳变（例如从低到高）时，D输入端的逻辑电平被采样并传输到Q输出端。该值保持锁存，不受D端变化的影响，直到下一个时钟沿。在内部，它通常使用交叉耦合的门（如与非门或或非门）来形成反馈以维持状态。
工作原理
The D flip-flop operates on edge-triggered clocking. When the clock signal transitions (e.g., from low to high), the logic level at the D input is sampled and transferred to the Q output. This value remains latched, unaffected by changes at D, until the next clock edge. Internally, it often uses cross-coupled gates (like NAND or NOR) to create feedback that maintains state.
材料
半导体材料：硅（Si）及掺杂剂（如硼、磷）用于制造晶体管介电层（如二氧化硅）金属互连（如铝、铜）。封装：陶瓷或塑料封装体带有引线框架或焊球。
Hold Time
30 ps
Setup Time
50 ps
Output Drive
4 mA
Power Supply
1.2 V
Clock Frequency
Up to 5 GHz
Propagation Delay
100 ps
Operating Temperature
-40°C to 125°C
标准
ISO 9001IEC 60747JEDEC JESD78

行业分类与别名

D触发器单元 的常用贸易名称、技术标识和检索关键词。

D flip-flopdigital logicsequential circuitclock edgedata storagesemiconductorflip-flop arrayIC componentD触发器单元D Flip-Flop Cell计算机、电子和光学产品制造 D触发器单元

上级产品

该组件会出现在以下整机或工业产品中。

D触发器阵列
一种由多个D触发器以阵列配置组成的数字电路元件，用于并行数据存储与传输。
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FMEA · 风险与缓解

诱因 → 失效模式 → 工程缓解

Clock signal delay variation->Setup or hold time violation->Use balanced clock tree synthesis and timing analysis tools
Voltage spike on power rail->Data corruption or latch-up->Implement decoupling capacitors and robust power distribution

工业生态与工程逻辑

兼容对象
D Flip-Flop ArrayFPGA boardsMicrocontroller unitsDigital signal processors
可替换件
Texas InstrumentsIntelXilinxAnalog Devices
0
Clock skew causing timing violations
1
Metastability from asynchronous inputs
2
Power supply noise affecting stability
3
Electrostatic discharge (ESD) damage

合规与检测

tolerance
±5% for timing parameters, ±10% for voltage levels
test method
Automated test equipment (ATE) with vector patterns, scan chain testing, and boundary scan (JTAG)

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采购评估维度

不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。

技术文档
4/5
制造能力
4/5
可检验性
5/5
供应商透明度
3/5

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常见问题

What is the difference between a D flip-flop and a latch?

A D flip-flop is edge-triggered, capturing data only on a clock transition, while a latch is level-sensitive, transparent when the enable signal is active, making flip-flops better for synchronous design.

How is a D flip-flop cell used in a D Flip-Flop Array machine?

Multiple D flip-flop cells are integrated into an array to form registers or memory blocks, enabling parallel data storage and processing in digital systems like CPUs or FPGAs.

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URN:CNFX:ME:UNIT:D_FLIP_FLOP_CELL