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锁存电路

繁體:鎖存電路

锁存电路是一种基本的数字存储元件,用于存储单个数据位。

技术定义与适配语境
典型 锁存电路 会按材料、尺寸公差、适配关系和失效风险在 计算机、电子和光学产品制造 中评估。

锁存电路是一种基本的数字存储元件,用于存储单个数据位。在感测放大器应用中,它在读取操作期间捕获并保持来自存储单元(如DRAM或SRAM)的放大信号,防止在后续处理过程中数据丢失。它由交叉耦合的逻辑门(通常是NAND或NOR)组成,形成双稳态,即使在输入改变后也能保持输出,直到施加复位信号。 基于双稳态多谐振荡器原理,利用正反馈工作。当使能时,它采样来自感测放大器的输入信号,并将其锁定在两个稳定状态(高或低)之一。无论输入如何变化,输出保持锁存,直到复位或使能信号切换它。在感测放大器中,通常使用SR(置位-复位)或D型锁存配置来捕获从存储单元读取的电压差。

组件规格

定义
锁存电路是一种基本的数字存储元件,用于存储单个数据位。在感测放大器应用中,它在读取操作期间捕获并保持来自存储单元(如DRAM或SRAM)的放大信号,防止在后续处理过程中数据丢失。它由交叉耦合的逻辑门(通常是NAND或NOR)组成,形成双稳态,即使在输入改变后也能保持输出,直到施加复位信号。

基于双稳态多谐振荡器原理,利用正反馈工作。当使能时,它采样来自感测放大器的输入信号,并将其锁定在两个稳定状态(高或低)之一。无论输入如何变化,输出保持锁存,直到复位或使能信号切换它。在感测放大器中,通常使用SR(置位-复位)或D型锁存配置来捕获从存储单元读取的电压差。
工作原理
Operates on bistable multivibrator principle using positive feedback. When enabled, it samples the input signal from the sense amplifier and locks it into one of two stable states (high or low). The output remains latched regardless of input changes until a reset or enable signal toggles it. In sense amplifiers, it typically uses SR (Set-Reset) or D-type latch configurations to capture voltage differences amplified from memory cell readings.
材料
半导体材料(硅、砷化镓)、铜/铝互连、介电层(SiO2、高k材料)、封装材料(环氧树脂、陶瓷基板)。
Hold Time
0.3-1.5 ns
Setup Time
0.5-2 ns
Package Type
SOP, QFP, BGA
Operating Voltage
1.2V, 1.8V, 3.3V, 5V
Power Consumption
0.1-5 mW
Propagation Delay
1-5 ns
Temperature Range
-40°C to 125°C
标准
ISO 9001IEC 60747JEDEC JESD78

行业分类与别名

锁存电路 的常用贸易名称、技术标识和检索关键词。

上级产品

该组件会出现在以下整机或工业产品中。

FMEA · 风险与缓解

诱因 → 失效模式 → 工程缓解

Insufficient setup/hold time margins->Incorrect data latching->Implement timing analysis tools, use matched delay lines, and add guard bands in clock distribution
Power supply noise or voltage droops->Unstable latch state or data corruption->Use decoupling capacitors, robust power distribution networks, and voltage regulators
Radiation or electromagnetic interference->Bit flips or soft errors->Implement error-correcting codes, radiation-hardened designs, and shielding

工业生态与工程逻辑

0
Metastability causing data errors
1
Timing violations due to signal skew
2
Electrostatic discharge damage
3
Thermal degradation at high frequencies

合规与检测

tolerance
±5% voltage tolerance, ±0.1 ns timing tolerance, ±10% power consumption tolerance
test method
JEDEC JESD78 latch-up test, IEC 60747 semiconductor test, automated test equipment (ATE) for functional and parametric testing

制造该组件的工厂

来自 CNFX 组件能力表的相关制造商资料。

制造商列表用于前期研究和供应商能力理解,不代表认证、排名或交易担保。

采购评估维度

不是客户评论,也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。

技术文档
4/5
制造能力
4/5
可检验性
5/5
供应商透明度
3/5

这些分值是采购评估维度示例,不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。

相关组件

常见问题

What is the difference between a latch and a flip-flop in sense amplifiers?

Latches are level-sensitive and transparent when enabled, while flip-flops are edge-triggered. In sense amplifiers, latches are often preferred for faster signal capture during the amplification window, whereas flip-flops provide synchronized timing at clock edges.

How does a latch circuit improve sense amplifier performance?

It prevents data corruption by holding the amplified signal stable during subsequent operations, reduces timing constraints, and enables asynchronous read operations in memory systems.

What are common failure modes of latch circuits in industrial applications?

Metastability issues, setup/hold time violations, leakage current in low-power modes, and electromigration in interconnects under high-frequency operation.

我可以直接联系工厂吗?

CNFX 是开放目录,不是交易平台或采购代理。工厂资料和表单用于帮助你准备直接沟通。

CNFX Industrial Component Index · 计算机、电子和光学产品制造

数据基础

CNFX 制造商资料、技术分类、公开产品信息和持续合理性检查。

初步技术归类
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