阵列中的每个探针都是弹簧加载的弹簧针。当测试治具被驱动（例如，真空或气动压力机降低治具板）时，阵列被压到DUT上。探针压缩，其内部弹簧确保一致的接触力。探针尖端（通常是尖锐或冠状点）与测试点进行物理和电气接触，而探针主体连接到通向测试系统的导线或走线。这创建了一个临时电路路径，用于施加测试信号和测量响应。测试完成后，治具缩回，弹簧将探针恢复到其伸展位置。
| 参数 | 典型区间 | 选型说明与越界后果 |
|---|---|---|
| 探针数量 | 16–512 pcs | Customizable based on test points |
| 探针间距 | 0.5–2.54 mm | Minimum pitch limited by probe diameter |
| 探针直径 | 0.3–1.5 mm | Affects contact resistance and current rating |
| 接触电阻 | ≤50 mΩ | Measured at specified operating pressure |
| 额定电流 | 1–5 A | Per probe, continuous |
| 工作温度 | -40–85 °C | Extended range available on request |
| 探针行程 | 1.5–6.0 mm | Total spring deflection |
| 弹簧力 | 0.5–2.0 N | At 2/3 travel |
| 绝缘电阻 | ≥1000 MΩ | Between adjacent probes at 100 V DC |
| 耐压 | 500 V AC | For 1 minute, between adjacent probes |
| 探针材料 | BeCu | Beryllium copper, gold-plated tipASTM B196 |
| 外壳材料 | PPS | High temperature thermoplasticUL 94 V-0 |
| 重量 | 0.5–5.0 kg | Depends on size and probe count |
| 防护等级 | IP54 | Dust and splash resistantIEC 60529 |
区间为行业参考值，供询价时圈定范围用，不构成供应商承诺。下单前请向法人制造商核实每一项数值与标准。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
| pressure: | 每个探针接触力最大50克 |
| other spec: | 电流额定值：每个探针1-3安培，接触电阻：<50毫欧 |
| temperature: | -40°C 至 +125°C |
不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。
这些分值是采购评估维度示例，不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。
探针数量可根据测试点定制，通常在16至512个之间。具体数量取决于特定的PCB或组件布局，必须针对每个应用进行确认。
常见材料包括铍铜（BeCu）用于弹簧和主体，碳化钨或硬化钢用于尖端，以及金或镍镀层用于导电性和耐腐蚀性。外壳通常采用高温热塑性塑料（PPS），阻燃等级UL 94 V-0。
接触电阻规定为≤50毫欧，在指定的工作压力下测量。该值为参考范围；实际性能应与制造商确认具体型号。
标准工作温度范围为-40至85摄氏度。可根据要求提供扩展范围，但需与供应商确认。
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说明目标数量、应用场景、交期和关键技术要求，用于准备 RFQ 或供应商评估。