S/H电路分两个阶段工作。采样阶段，控制信号闭合开关，将输入连接到保持电容，电容充电至输入电压，跟随模拟信号。保持阶段，开关断开，输入断开，电容保持电荷，维持最后采样的电压值。该保持电压随后提供给ADC进行转换。开关通常为CMOS晶体管，电容为高质量聚合物型以减少泄漏。孔径延迟是保持命令到开关实际断开之间的时间，孔径抖动是该延迟的不确定性。保持期间，电压可能因电容泄漏而下降，用下降率表征。采集时间是电容充电至输入电压并达到规定精度所需的时间。建立时间是采集后输出稳定所需的时间。这些参数决定电路性能及对特定采样率和精度要求的适用性。
| 参数 | 典型区间 | 选型说明与越界后果 |
|---|---|---|
| 电源电压 | 5 ±10% V DC | Operating range for analog and digital sections |
| 电源电流 | 2–10 mA | Depends on output load and sampling rate |
| 输入电压范围 | 0–5 V | Within supply rails; beyond may cause clipping |
| 输出电压范围 | 0–5 V | Holds last sampled value |
| 采集时间 | 1–10 µs | Time to settle to 0.01% of final value |
| 孔径延迟 | 10–50 ns | Delay from hold command to actual sampling |
| 孔径抖动 | 1–5 ps | Uncertainty in aperture delay |
| 下降率 | 0.1–1 mV/ms | Voltage decay in hold mode |
| 建立时间 | 2–20 µs | To 0.01% after acquisition |
| 输入失调电压 | ±0.5–±5 mV | Affects accuracy |
| 增益误差 | ±0.01–±0.1 % | Full-scale error |
| 工作温度范围 | -40–85 °C | 可选宽范围型号IEC 60721-3-1 |
| 存储温度范围 | -55–125 °C | Non-operatingIEC 60721-3-1 |
| 封装类型 | SOIC-8 | Other packages availableJEDEC MS-012 |
区间为行业参考值，供询价时圈定范围用，不构成供应商承诺。下单前请向法人制造商核实每一项数值与标准。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
| pressure: | 不适用（电子电路，无流体/气体压力） |
| other spec: | 采样率：高速版本高达100 MS/s（每秒百万次采样），保持时间：通常为1 µs至100 ms，具体取决于电容器和泄漏情况 |
| temperature: | -40°C至+125°C（典型集成电路实现的工作范围） |
不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。
这些分值是采购评估维度示例，不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。
它在特定时刻捕获模拟电压，并在模拟数字转换期间保持恒定，防止因信号变化引起的误差。
重要参数包括采集时间、孔径延迟、孔径抖动、下降率、建立时间、输入失调电压和增益误差，这些影响精度和速度。
电容质量决定下降率和采集时间。低泄漏电容可减少下降，但较大电容可能增加采集时间。
可能参考环境和封装标准如IEC 60721-3-1和JEDEC MS-012，但合规性需向制造商核实。
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CNFX 制造商资料、技术分类、公开产品信息和持续合理性检查。
说明目标数量、应用场景、交期和关键技术要求，用于准备 RFQ 或供应商评估。