先确定电流和探测器，再选择放大器与反馈网络
沿信号通路看四个电路位置与反馈作用
这是运放式跨阻级的功能结构参考，不是某厂家模块的制造BOM。供电去耦、参考偏置、探测器、保护和输出接口还要按实际电路确认；反馈补偿可能包含元件和寄生电容，不一定都是芯片内部器件。[1][2]
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| 部件 | 作用 | 材料与配置 |
|---|---|---|
| 运算放大器／有源核心 | 通过负反馈协调输入节点与输出；需同时看输入偏置、共模、噪声、GBW和输出驱动。OPA380单通道与OPA2380双通道的引脚安排不同，不能仅看8脚就互换。[1] | 芯片工艺、封装与引脚按完整订货号确认；不能从“硅”推每种TIA相同输入结构、键合材料或额定。手册的功能电路不是晶圆制造清单。[1] |
| 反馈电阻Rf | 设置低频电流—电压比例，同时引入热噪声及寄生电容；阻值提高会改变带宽、偏置误差和输出余量，不能只看灵敏度。[1][2] | 外接电阻需指定阻值、公差、温度系数、额定与寄生条件；薄膜等工艺名称不保证本电路噪声。OPA380手册把表贴电阻寄生作为补偿分析的一部分。[1] |
| 输入求和节点与探测器接口 | 连接电流源、反相输入和反馈网络，是电气连接位置。二极管电容、运放输入电容与板级寄生／漏电都影响表现。[1][2] | 焊盘、走线、连接器及绝缘结构按PCB与封装图纸；清洁度和保护结构需兼顾漏电、输入电容及ESD，不用某种镀层名字代替节点性能验证。[1] |
| 反馈／补偿电容Cf | 通常并接Rf，控制噪声增益、峰化和频率响应。物理电容之外还包括反馈电阻和PCB的寄生，必须结合输入总电容与运放动态特性确定。[1][2] | 按电路选择实际电容介质、容差与温度特性，外接电容与内部补偿结构分别核对。OPA380图6a没有外加Cf但含寄生；图6b增加16pF，这些只是对应例图配置。[1] |
芯片参数与整级参数分开，同一测试条件下才可比较
OPA380例值来自SBOS291G技术部分：默认25°C、负载2kΩ接Vs/2、输出Vs/2，另有注明条件。典型值不是最大保证，绝对最大额定不是正常工作点；实际板级指标还受探测器、反馈、偏置和负载影响。[1]
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| 参数 | 资料与范围 | 选型含义 |
|---|---|---|
| 供电与偏置电源 | OPA380规定总电源差：2.7～5.5V | ±5V相差10V，不能套给该器件。例图额外−5V用于输出下拉电阻，并非把芯片电源脚接成±5V。还要检查参考偏置、共模及电源噪声；不要混用两种接法。[1] |
| 跨阻带宽与运放GBW | OPA380 GBW典型90MHz；整级另算／测 | 图6/7在二极管10pF、Rf10kΩ的例子中，无外加Cf时约10MHz，增加16pF后约1MHz。这些例值不构成全品类带宽保证，也不能从90MHz直接推TIA信号带宽。[1][2] |
| 跨阻增益与反馈网络 | 低频近似Rf，单位V/A＝Ω | 用电阻定的是电流转电压比，不是普通电压增益V/V。选Rf还要使最大电流及暗电流／偏置后的输出不过载，并核对Cf、目标频带和误差；同一芯片可得到不同跨阻级。[1][2] |
| 输入失调与输出基线 | OPA380：典型4µV，最大25µV（指定条件） | 数据手册单通道表在Vs5V、共模0V给此值，不能把它当整级输出误差。偏置电流、暗电流、Rf、参考电平及频率相关噪声增益会影响输出，温度和电源条件需另核。[1] |
| 输入偏置电流 | OPA380 25°C：典型3pA，最大±50pA | 表中共模为Vs/2，温度变化另参考典型曲线，不能把25°C最大值视作全温上限。SBOA122例还说明，低电压噪声器件若偏置过大，会先让高跨阻级输出饱和。[1][2] |
| 输出线性范围与负载 | OPA380 2kΩ负载：距正轨600mV、负轨100mV的规定余量 | 上下限要按具体供电、负载和接法确认，短路电流也不能作正常工作电流。要到0V的手册接法增加下拉电阻及更负电源；跟ADC的输入范围、负载、共模和过载恢复一起确认。[1] |
| 输入电流噪声与系统总噪声 | OPA380电流噪声密度典型10fA/√Hz，10kHz | 密度、积分RMS与输入等效总噪声是不同量。手册还列电压噪声、Rf热噪声和电容引起的噪声增益；必须说明频带／滤波、探测器和折算口径，不能只挑最低单点值作整板保证。[1][2] |
| 器件温度与板级环境 | OPA380规定工作范围−40～+125°C | 这只是所引器件，不自动覆盖光电二极管、反馈元件或整板。输入偏置等随温度变化，零点／增益目标需在约定温区测量；储存范围、焊接峰温和工作范围分别确认。[1] |
| 静态电流与功耗预算 | OPA380无输出电流时：典型7.5mA、25°C最大9.5mA | 同表全温最大10mA。芯片静态电流乘供电差只能估一部分功耗，还需输出负载、偏置、探测器及外围电源。整块前端板的最大功耗需另行预算。[1] |
| 输入总电容 | 探测器＋运放输入＋板级寄生共同确定 | OPA380单通道表列差模典型1.1pF、反相共模3pF，不能把二者或探测器单项当总电容。探测器偏置、连接和PCB改变后须复核补偿；输入电容不是越低一个数字就保证全电路稳定。[1][2] |
| 输出阻抗与接口 | OPA380开环典型40Ω：1MHz、无输出电流 | 开环值不同于负反馈下的输出阻抗，更不是50Ω射频端接要求。ADC输入电容、采样冲击、线缆与滤波需一起验证；手册ADS8411例的RC值明确不能直接移给所有ADC。[1] |
| 封装、通道与订货号 | OPA380：SOIC(D)／VSSOP(DGK)，均8脚 | 按2026-07-15订货附录，核完整料号、引脚及封装图。旧技术页称SO-8／MSOP-8，不以笼统SOP-8判断焊盘互换；OPA2380双通道虽也8脚，其引脚功能不同。[1][3] |
先算最大电流的输出变化，再核对暗电流和偏置
理想低频例：若Rf为100kΩ，输入电流变化10µA，则输出变化幅值为1V（10µA×100000Ω）。这是比例关系的计算，不是某块板已通过的测量；电流方向决定正负，输出还叠加参考电平，不能默认围绕0V对称摆动。[1][2]
随后核对暗电流、输入偏置、参考误差及最大信号共同占用的输出余量，再看输入共模和后级ADC量程。OPA380在2kΩ负载下有轨端余量，不能把供电5V当满幅输出5V。高跨阻也会放大偏置造成的直流误差，光信号尚未满量程就可能失去线性。[1][2]
同一反馈电阻，补偿和输入电容仍会改变速度与噪声
OPA380图6a/6b与图7的比较固定Rf10kΩ，图7标二极管电容10pF：无外加反馈电容的例约10MHz，增加16pF后约1MHz。这个对照说明外接网络改变结果，不是建议所有光电二极管都选16pF；实际总电容还含运放与板级寄生。[1]
SBOA122采用单极点运放近似分析稳定性，带宽关系有模型和响应形状前提；其中噪声章节又限定了宽带积分分析的使用条件。不能把宽带近似式当窄带单点噪声公式，也不能把光电二极管电容遗漏后套一个Cf。[2]
测得的噪声要给出带宽和滤波。电流噪声密度、运放电压噪声经噪声增益后的贡献、Rf热噪声和探测器噪声应分别预算，再折算到输入或积分到输出。只把电阻加大或后级放大，并不能在相同速度下无代价地提高有效分辨能力。[1][2]
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测试探头、线缆和板面漏电，也是电路的一部分
OPA380布局章节强调求和节点电容和板面漏电，清洁与同电位保护结构有各自作用；随意在敏感输入点接探头，也会改变原本的电容条件。记录探测器或替代电流源、反向偏置、Rf/Cf、板版本、电源、参考及后级负载，用已知输入检查零点、增益、频响、峰化／振铃和过载恢复。[1][2]
出现基线漂移、噪声升高或波形异常时，先对照输入、供电、接地、温度、污染漏电与测量接法，不能仅凭症状认定器件老化，也不能以听到啸叫作为高频稳定性检验。检查ESD和输入过压路径，按器件额定及实验室程序处理；不要把通用强制风冷、TEC或保护电容处方直接加到敏感节点。[1]
提交需求应带[探测器型号及偏置下电容、最小／最大及暗电流、直流或脉冲波形、目标频带／建立精度、输出／ADC范围、供电、环境、噪声口径]，要求回复[有源器件和料号、原理图/PCB版本、反馈网络、各项测试条件与结果、保护和接口边界]。购买芯片、裸板和带探测器模块是三种不同交付范围。[1][2]
整机合规需按最终产品和市场判断。欧委会给LVD范围为50～1000VAC、75～1500VDC；不能把低压TIA芯片直接写成已获“LVD／CE认证”，也不能凭芯片电源低就断言整台仪器无其他合规责任。[4]
资料来源与适用范围
核对日期：2026-10-14。参考器件、理想关系、模型近似、例图和实际板级测试分开。TI资料用于器件与电路说明，不代表已核实的中国跨阻模块供货商。
- TI：OPA380／OPA2380数据手册SBOS291G技术部分2007-09修订。实际读PDF1～3、9～16页文字，查看3页参数表及11／12／13页公式、例电路与曲线；不是全26页和全部典型曲线均读。典型／最大／温度与负载条件分别采信。
- TI：SBOA122跨阻设计报告，2009-11实际读2～8页文字：电流转换、单极点稳定近似、增益带宽耦合、噪声假设及偏置饱和例。未把提取乱码公式直接照搬，未将分析结果称实际板卡测量。
- TI：OPA380产品与订货入口产品页与数据手册订货附录交叉核对SOIC(D)/VSSOP(DGK)；附录2026-07-15，技术主体2007-09。产品网页的90MHz标签不代整级TIA带宽。
- 欧盟委员会：Low Voltage Directive范围已读输入／输出电压范围说明；仅纠正把低压级直接称LVD/CE认证的推断，不代最终仪器的合规评估。