该接口通过精确对准的连接器和接触针，维持测试系统电子设备与探针卡接触点之间的电气连续性。它提供机械支撑和对准功能，确保探针卡在测试循环期间相对于晶圆保持正确的位置。设计确保低接触电阻和稳定的信号传输，同时机械结构适应过驱动和平面度要求。
| 参数 | 典型区间 | 选型说明与越界后果 |
|---|---|---|
| 接触电阻 | ≤50 mΩ | Higher resistance causes signal attenuation and heating. |
| 额定电流 | 1–5 A | Exceeding rating damages contacts. |
| 绝缘电阻 | ≥1000 MΩ | Below this, leakage currents affect measurements. |
| 介电耐压 | 500–1000 V DC | Ensures insulation integrity under high voltage. |
| 工作温度 | -40–85 °C | Outside range, materials degrade. |
| 接触力 | 5–15 g | Too low causes poor contact; too high damages pads. |
| 探针行程 | 50–150 µm | Required for overdrive and planarization. |
| 平面度 | ±10 µm | Ensures uniform contact across all probes. |
| 探针间距 | 40–150 µm | Determines minimum pad size and density. |
| 探针数量 | 100–2000 pcs | Depends on device under test complexity. |
| 电容 | ≤1 pF | Low capacitance for high-frequency signals. |
| 电感 | ≤1 nH | Low inductance for high-speed testing. |
| 重量 | 0.5–2.0 kg | Affects handling and mechanical stability. |
| 连接器类型 | ZIF–LIF | ZIF for easy replacement, LIF for high density. |
区间为行业参考值，供询价时圈定范围用，不构成供应商承诺。下单前请向法人制造商核实每一项数值与标准。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
| pressure: | 0 至 50 psi |
| flow rate: | Spec in Chinese (GB Standards) |
| temperature: | -40°C 至 125°C |
不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。
这些分值是采购评估维度示例，不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。
它提供探针卡与测试头/控制器之间的电气和机械连接，确保晶圆测试期间的精确对准和可靠信号传输。
参考范围为≤50 mΩ。较高的电阻可能导致信号衰减和发热，因此应针对具体型号进行核实。
目录中列出的材料包括高频PCB材料、精密加工铝、镀金接触针和陶瓷绝缘体。
将接口的参数（如探针数量、连接器类型、平面度）与您的测试要求进行对比，并与法定制造商或供应商确认。
CNFX 是开放目录，不是交易平台或采购代理。工厂资料和表单用于帮助你准备直接沟通。
CNFX 制造商资料、技术分类、公开产品信息和持续合理性检查。
说明目标数量、应用场景、交期和关键技术要求，用于准备 RFQ 或供应商评估。