该单元以极高的精度定位探针卡（或类似的接触器组件），使其接触点与半导体晶圆上的焊盘对齐。然后施加受控的过行程（向下力）以建立稳定的电气连接。在测试期间，它将来自ATE的电信号通过探针卡路由到晶圆上的被测器件（DUT）并返回，同时管理信号噪声、阻抗匹配和热耗散等潜在问题。
| 参数 | 典型区间 | 选型说明与越界后果 |
|---|---|---|
| 引脚数 | 128–1024 引脚 | Matches probe card and tester channels |
| 最大测试频率 | 1–10 GHz | Higher for high-speed ICs |
| 接触电阻 | ≤0.1 Ω | Lower is better for signal integrity |
| 绝缘电阻 | ≥10^9 Ω | At 100 V DC |
| 电容 | ≤1 pF | Per pin, at 1 MHz |
| 工作温度 | 0–85 °C | Within prober chuck temperature range |
| 相对湿度 | 20–80 % RH | Non-condensing |
| 防护等级 | IP54–IP65 | Dust and water resistanceIEC 60529 |
| 接触力 | 5–50 g/pin | Adjustable per pin |
| 平面度 | ±10 μm | Across contact area |
| 漏电流 | ≤1 nA | At 100 V DC |
| 重量 | 5–20 kg | Depends on pin count and materials |
区间为行业参考值，供询价时圈定范围用，不构成供应商承诺。下单前请向法人制造商核实每一项数值与标准。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
| pressure: | 0 至 50 psi |
| other spec: | 接触力: 每针 0.5-5.0 N, 信号频率: DC 至 10 GHz |
| temperature: | -40°C 至 +125°C |
不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。
这些分值是采购评估维度示例，不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。
TIU提供晶圆探针台测试电子设备与半导体晶圆之间的电气和机械接口，确保测试期间的精确对准和可靠信号传输。
TIU支持128至1024的引脚数，最大测试频率为1至10 GHz，具体取决于型号和应用。
常见材料包括陶瓷基板、钨或铍铜（探针）、FR-4或聚酰亚胺（PCB）、不锈钢（外壳/夹具）。
请务必与法定制造商或供应商确认型号特定值，如接触电阻、绝缘电阻、电容和工作温度，因为这些可能因型号而异。
CNFX 是开放目录，不是交易平台或采购代理。工厂资料和表单用于帮助你准备直接沟通。
CNFX 制造商资料、技术分类、公开产品信息和持续合理性检查。
说明目标数量、应用场景、交期和关键技术要求，用于准备 RFQ 或供应商评估。