分选机将半导体器件（DUT）定位到测试工位内的插座上。插座的触点（如探针、弹簧）与DUT的端子建立可靠的电气连接。来自自动化测试设备（ATE）的测试信号通过分选机的接口板路由至插座触点，施加到DUT上，DUT的输出信号被测量并路由回ATE进行分析，以确定通过/失败状态。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
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不是客户评论，也不是实时热度。以下维度用于前期 RFQ 准备和供应商评估。
这些分值是采购评估维度示例，不代表真实客户评分、具体国家买家反馈或实时询盘。
The socket contacts are made from phosphor bronze for its excellent spring properties, conductivity, and durability, ensuring reliable electrical connections during repeated IC testing cycles.
PEEK and Vespel offer high temperature resistance, excellent electrical insulation, and dimensional stability, making them ideal for maintaining precise alignment and preventing electrical leakage in test environments.
The test site mounts to the handler's actuation mechanism via the stainless steel frame, while the socket adapter plate interfaces with test electronics, creating a complete physical and electrical pathway for IC testing.
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