繁體：接觸式測頭
接触式测头是坐标测量机（CMM）中的精密测量元件，通过物理接触工件表面采集尺寸数据点。
接触式测头是坐标测量机（CMM）中的精密测量元件，通过物理接触工件表面来采集尺寸数据点。它由带球形测尖的测杆、带偏转传感器的测头主体以及安装接口组成。当测杆接触工件时，测头检测到偏转并触发测量信号，记录三维空间中的精确位置，用于几何尺寸与公差（GD&T）分析。 接触式测头基于触觉传感原理工作。当测尖接触工件表面时，会产生轻微偏转，触发测头主体内的传感器（通常是应变片或光学传感器）。该偏转产生电信号，指示已发生接触。CMM的控制器记录此时机器的位置，形成精确的三维坐标点。测头可进行单点测量或沿表面进行扫描运动。
诱因 → 失效模式 → 工程缓解
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接触式探头通过测针物理接触工件，对于具有明确表面的硬质材料提供高精度。非接触式探头（如激光或视觉系统）无需物理接触即可测量，适用于易碎或软质材料，但可能具有不同的精度特性。
接触式探头应每天或在进行关键测量前使用参考球进行校准。完整的性能验证应遵循制造商建议，通常每6-12个月或根据ISO 10360标准进行。
是的，通过适当选择可以实现。低触发力（0.1N-0.3N）和较大测针尖端直径的探头可以最小化表面变形。对于非常易碎的材料，非接触式方法可能更可取，以避免任何标记或损坏。
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